封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等
● 高速测量2ms● 能根据C 和D （损耗系数*2）的测量值，进行被测物合格与否的判断● 对应测试线，比较器功能/触发输出功能● 3504-60/-50用BIN的分选接口进行被测物体的测试● 3504-40记录工具，实现高速/低成本的测试● 查出全机测量中的接触错误，提高成品率
输入用探头/测试夹具，实体不附带。按照测量目的，不同型号有不同的探头/测试夹具选件
测量参数Cs,Cp（电容）,D（损耗系数tanδ）测量范围C:0.9400pF～20.0000mFD:0.00001～1.99000基本精度（代表值）C:±0.09% rdg. ±10 dgt.,D:±0.0016※测定精度= 基本精度× B× C× D× E, B～E为各系数测量频率120Hz, 1kHz测量信号电平恒压模式: 100mV (仅限3504-60)， 500 mV, 1 V测量范围:CV 100mV:～ 170μF 量程 (测量频率 1kHz), ～ 1.45mF 量程 (测量频率 120Hz)CV 500mV: ～ 170μF 量程 (测量频率 1kHz), ～ 1.45mF 量程 (测量频率 120Hz)CV 1V: ～ 70μF 量程 (测量频率 1kHz), ～ 700μF 量程 (测量频率 120Hz)输出电阻5Ω（CV测量范围以外的开路端子电压模式时）显示发光二级管 （6位表示，满量程计算器根据量程而定）测量时间典型值: 2.0 ms （ 1 kHz, F... [详细介绍]